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_aTK5102.9 _bS539 |
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| 245 | 0 | 0 |
_aSignal measurement, analysis, and testing / _ced. by Jerry C. Whitaker |
| 264 | 1 |
_aBoca Raton, Florida : _bCRC Press, _cc2000 |
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| 300 |
_a313 páginas : _bilustraciones |
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| 336 |
_atexto _2rdacontent |
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| 337 |
_asin medio _2rdamedia |
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| 338 |
_avolumen _2rdacarrier |
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| 650 | 4 |
_aProcesamiento de señales _xTécnicas digitales |
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| 650 | 4 | _aAnálisis de sistemas | |
| 650 | 4 | _aAnálisis de Fourier | |
| 650 | 4 | _aDistorsión de fase (Electrónica) | |
| 700 | 1 |
_aWhitaker, Jerry C., _eeditor |
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