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Electron and ion microscopy and microanalysis : principles and applications / Lawrence E. Murr
Tipo de material:
TextoIdioma: SPA Series Optical engineering ; 29Editor: New York : M. Dekker, c1991Edición: 2nd ed., rev. and expandedDescripción: 837 páginasTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 0-8247-8556-8 (papel libre de acido)Tema(s): Microscopía electrónica | Microscopía iónica de campo | Análisis por microsondaClasificación LoC:QH212.E4 | M87 1991
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros
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Libros Libros | General | QH212.E4 M87 1991 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 5769 |
Total de reservas: 0
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